深圳市联合多层线路板有限公司2025-03-20
内层铜厚均匀性检测:采用X射线荧光光谱仪(XRF)进行9点测量,允许偏差±10%,关键层别需制作微切片测量实际铜厚,结合蚀刻因子(≥3.0)评估工艺稳定性。
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