太阳光谱反射率发射率测量仪价格多少
在节能建筑领域,发射率测量仪可用于评估建筑材料的热性能,为节能设计和LEED认证提供数据支持。通过测量建筑材料的发射率,可以了解其保温隔热性能,从而优化建筑设计,提高能源利用效率。在实验室环境中,发射率测量仪可用于多种研发试验和质量控制过程。例如,在涂料的质量控制中,通过测量涂层的发射率可以评估其性能是否符合标准;在实验室研发中,发射率测量仪可用于监测反应过程中的温度变化等。上海明策电子科技有限公司的发射率测量仪产品具有广泛的应用场景,涵盖了材料科学、热工测试、红外理疗、航天热控、节能建筑以及实验室研发等多个领域。这些应用场景充分展示了发射率测量仪在科研、生产和质量控制等方面的重要作用。上海发射率测量仪的定制尺寸。太阳光谱反射率发射率测量仪价格多少
发射率测量仪
明策代理:半球发射率测量仪AE1&RD1——美国D&S-现货库存
读数器:D&S微型数字伏特计。
型号RD1输出:材料温度为25℃时,2.4毫伏通常对应材料发射率为0.9
线性关系:检测器输出和发射率成线性关系,精度为+0.01发单位测量时间:
10s加热装置:加热被测样品,使其在与标准体温度相同的情况下被测量样品温度:高达130华氏度,约为55℃
漂移:输出可能会随着环境而变化,但是在短时间测量内可以想睡不计标准体:提供两个高发射率标准体和两个地发射率标准体,其中一套标准可用来测量时使用,另一套标准体备用并作为参比。
电源:100-240V/50-60Hz,12V直流输出
测量波长:3-30um
测量范围:0-1测量精度:±0.01被测样品尺寸:Min5.7cm(可选配2.54cm样品探测器)外形尺寸:探测头中57X107mm,测量台H46mmx宽105mmxD152mm
标准配置:AE1探测头,高发射率标定块和低发射率标定块各2个,发射率测量仪,电源线,校准证书、操作手册、手提箱。 AE1/RD1发射率测量仪解决方案上海发射率测量仪的出厂价格。

15R-RGB便携式多波长镜面反射率产品特点:
USB:提供了一个USB端口,用于维护和下载数据集以及升级固件。
光源:高度白光发光二极管(400-800nm)。该光源以90Hz的频率进行斩波,消除了杂散光问题。
光学:LED光源安装在一个小孔径后面,提供近点光源。这通过会聚透镜准直成光束。一个相同的透镜将反射光束聚焦到收集孔中。
滤光片选择:通过滤光轮选择宽带红、绿、蓝和红外滤光片。一个额外的过滤器位置未经过滤,用于在白光LED的全光谱上进行测量。
孔径选择:五个孔径提供4.6、7、15、25和46毫弧度的全接收角。
对准系统:三个螺纹支撑提供调整,使反射光束与接收光学器件对准,并补偿第二表面反射器的不同厚度。
校准标准:工作标准安装在连接到仪器底座的保护外壳中。
分辨率:一个3½位LCD显示屏直接指示反射率为0.1%。增益调节旋钮允许用户使用工作标准校准仪器。
重复性:+/-0.002反射单位。
工作温度:32至122F(0至50C)。
通常采用的反射计有热腔反射计、积分球(抛物面、椭球面等)反射计、镜面反射计及测角反射计等。(1)热腔反射计法测量范围通常为1~15μm,精度3%~5%,但该方法的精度在很大程度上取决于样品温度,而且必须很大低于热腔壁的温度,所以不适于高温测量,但此方法能测出样品的光谱及方向发射率,样品制备简便,设备简单,测试周期也较短,故仍得到一定应用。2)积分球反射计主要部分是一个具有高反射率的漫反射表面积分球。工作原理是被测样品置于球心处,入射光从积分球开口处投射到样品表面并反射到积分球内表面上,经过球面一次反射即均布在球表面上,探测器从另一孔口接收球内表面上的辐射能。然后某一已知反射率的标准样品取代被测样品,重复前述过程。两次测量辐射反射能之比即为反射率系数,被测样品的反射率即为此系数乘以标准样品的反射率。此方法温度范围宽,上限可达5000℃以上。(3)激光偏振法测量精度优于5%,测量时间小于,但只能测量光滑表面的材料发射率。原理为分别测量反射光两个偏振方向的强度比。 D&S的标度数字电压表RD1是AE1发射率仪读数器,RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致。

上下游协同:发射率测量仪行业的发展离不开上下游产业的协同支持。上游电子元器件、电子材料等行业的技术进步和成本降低将为发射率测量仪提供更高质量的原材料和部件;下游应用领域的拓展和升级则将为发射率测量仪提供更大的市场需求和发展空间。国际合作:在全球化的背景下,发射率测量仪行业需要加强国际合作与交流。通过引进国外先进技术和管理经验,提升国内企业的技术水平和市场竞争力;同时积极参与国际市场竞争,推动国产发射率测量仪走向世界舞台。上海发射率测量仪的厂家优势。太阳光谱反射率发射率测量仪价格多少
原理: 加热探测器内的热电堆,使探测器和试板之间产生温差。太阳光谱反射率发射率测量仪价格多少
使用Model SSR version 6太阳光谱反射率测量仪需要一个直径约一英寸的平坦样品。该仪器在测量口处提供漫射辐射源,并以与表面法线成二十度的窄立体角测量反射能量。理想情况下,样品应当平坦且与测量口齐平。然而,一些表面虽然基本平坦但具有一定的纹理,例如铺石、压花材料等,由于这些表面有凸起和凹陷,导致某些部分无法与测量口齐平,因而可能无法被适当照明。表面有浅的特征和一个位于测量口中心附近的较深凹陷,这种情况下,只要测量口周围的表面基本齐平,测量误差通常很小。第二种表面由于边缘部分与测量口不齐平,导致无法获得正确的照明效果,反射率测量值会低于实际值。太阳光谱反射率发射率测量仪价格多少
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