进口发射率测量仪品牌

AE1/RD1发射率测量仪是D&S公司生产，专门针对测量物体的发射率而设计的。AE1/RD1辐射率仪测量材料的总半球发射率，测量仪*对辐射热传输响应，并且输出电压和发射率成线性关系。D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器，RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致，当AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射率。把该仪器放在高发射率标准体（黑体）上，设定RD1来表示发射率标准参数；然后仪器就会根据这个标准，计算并直接读出RD1上该被测目标的发射率。发射率测量仪测量时间:10 s。进口发射率测量仪品牌

发射率测量仪可用于航天热控涂层所谓的热控涂层简单的说就是两个字—保温，让升上天的那些航空元器件不至于暴露在**温环境下损坏。发射率测量仪这时候就很重要。测量这种航天热控涂层，需要测量涂层的法向发射率、半球发射率、太阳光反射率，以计算涂层的热辐射性能（就是一束太阳光照过来，我吸收了多少能量，散掉了多少能量，保留了多少能量，这样就能计算出在不同光照下，涂层大概会维持在什么温度范围，这个就是对航空器件的控温要求的一种保证）。像这种应用的话TESA2000发射率测量仪是很合适的。发射率测量仪可应用于节能建筑、LEED认证等研究都是有用到的。光谱反射率发射率测量仪设备AE1发射率仪：发射率仪、电源线加热装置，两个高发射率标准体和两个低发射率标准体，技术手册及操作指南。

本系统由美国Devices&Services提供设备，由上海明策电子科技有限公司提供售前售后专业技术服务。Devices&Services公司位于德克萨斯州达拉斯市，自1977年以来一直为材料、太阳能和航空航天工业制造提供先进的热学和光学仪器。本系统由AE1/RD1辐射率测量仪与SSR-ER太阳光谱反射率测量仪组成。发射率测量仪内部**是一个发热的黑体，内部的热电堆传感器将反射的热辐射的数据转换为电压信号，并按照特定温度下的普朗克黑体定律给的热辐射光谱数据进行内部分析处理，从而得出数据反馈给仪器数显信号进行数据的输出。

    符合《ASTMC1371》、《JG_T235-2014建筑反射隔热涂料》、《GBT25261-2010建筑用反射隔热涂料》等国家标准，是建筑涂料行业，新能源材料研究，航空航天材料研发检测的必须品。重复性高，重复精度达到±；易于操作：仪器的检测器部分已电加热，因此不必额外加热样品，也无需温度测量。根据高发射率标准体提前设定发射率标准参数，测量仪*对辐射热传输响应并输出电压，和发射率成线性关系，通过可调旋钮设定发射率读数与标准体的发射率一致，通过校准后，当测量被测样品时，检测仪便可直接读出发射率。快速测量：在大约30分钟的初始预热器。期后，可以每隔半分钟读取一次发射率读数，使得测量结果变得实时可观。高性价比：该仪器简便小巧，性价比高，比同期其他方法的测量设备成本更低，维护更简单。 电源:通用交流电源适配器100-240V，50-60 Hz，12V直流输出。

产品名称:D&S半球发射率测量仪产品类别:发射率测量仪产品简介:D&S的标度数字电压表RD1是AE1辐射率仪读数器，RD1通过可调旋钮来设定电压读数和发射率标准体的电压一致，当AE1测量待测样品上时，RD1就能直接读出发射率。D&S半球发射率测量仪主要优势：重复性:±0.01操作简单:探测器采用电加热设计，无须加热样品，也不需要测量温度快速测量：预热约30分钟，每1.5分钟测量一次发射率价格实惠:相较于一些用比较法测量发射率的仪器便宜很多。把该仪器放在高发射率标准体（黑体）上，设定RD1来表示发射率标准参数。上海明策发射率测量仪调试

操作简单:探测器采用电加热设计，无须加热样品，也不需要测量温度。进口发射率测量仪品牌

    进行发射率测量1.将探头放到高放射率标定块的位置，然后等RD1显示的发射率数值稳定下来；并确保RD1在“变量variable”模式下2.把探头移动到被测样品上然后等待RD1的显示数值趋于稳定。此时显示的数值就是该样品发射率，不需要进行任何计算3.当测量未知样品时，一般我们都是采用高发射率标准块来校验下RD1，然后再测样品的发射率；当然设计其他一些特殊样品，我们有其他的一些对应方法，详情敬请咨询上海明策。进行发射率测量1.将探头放到高放射率标定块的位置，然后等RD1显示的发射率数值稳定下来；并确保RD1在“变量variable”模式下2.把探头移动到被测样品上然后等待RD1的显示数值趋于稳定。此时显示的数值就是该样品发射率，不需要进行任何计算3.当测量未知样品时，一般我们都是采用高发射率标准块来校验下RD1，然后再测样品的发射率；当然设计其他一些特殊样品，我们有其他的一些对应方法。 进口发射率测量仪品牌

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