源丰电子(深圳)有限公司2024-10-05
拨码开关电器的测试方法主要包括电流大小测试和性能测试。
电流大小测试:
使用压降法(伏安法)间接测量:通过给拨动开关插座通以一定值的直流电流,然后用毫伏表测量进出线端之间的压降(mV),利用欧姆定律计算得出开关插座的主回路电阻。这种方法适用于测量通过开关的电流较小的情况,因为它不会破坏接触表面的氧化膜,从而减少测量误差,得到较为准确的结果。
使用变压器和硅整流器的测量线路:在测量主回路电阻时,由于通过试品的电流较大,足以破坏接触表面的金属氧化膜,从而减少了测量误差,使得测得的值比较准确。这种方法推荐用于拨动开关插座的主回路测量,因为它能提供更准确的测量结果。
性能测试:
拨码开关的性能测试主要关注其滑块动作是否灵活、性能是否稳定可靠。这类开关通常用于低压电路,适用于数据处理、通信以及小型家用电器、玩具及小型仪器仪表上。拨码开关具有多个通路,通过弹片与底座触点的接触或断开来实现开通功能,内部触点镀层为镀金,以确保良好的电气接触和长期的稳定性。
综上所述,拨码开关电器的测试方法包括电流大小测试和性能测试两个方面。电流大小测试通过压降法和变压器硅整流器测量线路进行,而性能测试则主要关注开关的性能指标如滑块动作的灵活性和稳定性。这些测试方法共同确保了拨码开关在电器中的可靠使用。
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