半导体设备轮廓仪技术支持

轮廓仪的物镜知多少?  

白光干涉轮廓仪是基于白光干涉原理，以三维非接触时方法测量分析样片表面形貌的关键参数和尺寸，典型结果包括：

表面形貌（粗糙度，平面度，平行度，台阶高度，锥角等）

几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和集体，特征图形的位置和数量等）

白光干涉系统基于无限远显微镜系统，通过干涉物镜产生干涉条纹，使基本的光学显微镜系统变为白光干涉仪。  

因此物镜是轮廓仪最核 心的部件，

物镜的选择根据功能和检测的精度提出需求，为了满足各种精度的需求，需要提供各种物镜，例如标配的10×， 还有2.5×，5×，20×，50×，100×，可选。  

不同的镜头价格有很大的差别，因此需要量力根据需求选配对应的镜头哦。

轮廓仪在晶圆的IC封装中的应用：

晶圆的IC制造过程可简单看作是将光罩上的电路图通过UV刻蚀到镀膜和感光层后的硅晶圆上这一过程，其中由于光罩中电路结构尺寸极小，任何微小的黏附异物和下次均会导致制造的晶圆IC表面存在缺 陷，因此必须对光罩和晶圆的表面轮廓进行检测，检测相应的轮廓尺寸。 轮廓仪可用于高精密材料表面缺 陷超精密表面缺 陷分析，核探测。半导体设备轮廓仪技术支持

轮廓仪的功能:

廓测量仪能够对各种工件轮廓进行长度、高度、间距、水平距离、垂直距离、角度、圆弧半径等几何参数测量。测量效率高、操作简单、适用于车间检测站或计量室使用。

白光轮廓仪的典型应用：

对各种产品，不见和材料表面的平面度，粗糙度，波温度，面型轮廓，表面缺 陷，磨损情况，腐蚀情况，孔隙间隙，台阶高度，完全变形情况，加工情况等表面形貌特征进行测量和分析。

如果您想要了解更多的信息，请联系我们岱美仪器技术服务有限公司。 福建掩模对准轮廓仪几何特征（关键孔径尺寸，曲率半径，特征区域的面积和集体，特征图形的位置和数量等）。

轮廓仪产品概述：  

NanoX-2000/3000

系列 3D 光学干涉轮廓仪建立在移相干涉测量（PSI）、白光垂直扫描干涉测量（VSI）和单色光

垂直扫描干涉测量（CSI）等技术的基础上，以其纳米级测量准确度和重复性（稳定性）定量地反映出被测件的表面粗

糙度、表面轮廓、台阶高度、关键部位的尺寸及其形貌特征等。广泛应用于集成电路制造、MEMS、航空航天、精密加

工、表面工程技术、材料、太阳能电池技术等领域。

想要了解更多的信息，请联系我们岱美仪器。

满足您需求的轮廓仪  

使用范围广: 兼容多种测量和观察需求  

保护性: 非接触式光学轮廓仪

耐用性更强， 使用无损 

可操作性:一键式操作，操作更简单，更方便  

智能性:特殊形状能够只能计算特征参数  

个性化: 定制化客户报告模式 

更好用户体验： 迅捷的售后服务，个性化应用软件支持

1.精度高,寿命长---采用超高精度气浮导轨作为直线测量基准，具有稳定性好、承载大、永不磨损等优点，达到国内同类产品较高精度。  2.高精度光栅尺及进口采集卡---保证数据采样分辨率，准确度高，稳定性好。（网络） 摈弃传统检测方法耗时耗力，精确度低的缺点，大 大提高加工效率。

轮廓仪对所测样品的尺寸有何要求？

答：轮廓仪对载物台xy行程为140*110mm（可扩展），Z向测量范围最 大可达10mm，但由于白光干涉仪单次测量区域比较小（以10X镜头为例，在1mm左右），因而在测量大尺寸的样品时，全检的方式需要进行拼接测量，检测效率会比较低，建议寻找样品表 面的特征位置或抽取若干区域进行抽点检测，以单点或多点反映整个面的粗糙度参数；

4.测量的最小尺寸是否可以达到12mm，或者能够测到更小的尺寸？

如果需要了解更多，请访问官网。 轮廓仪广泛应用于集成电路制造、MEMS、航空航天、精密加 工、表面工程技术、材料、太阳能电池技术等领域。福建掩模对准轮廓仪

反射光通过MPD的针 孔减小到聚焦的部分落在CCD相机上。半导体设备轮廓仪技术支持

轮廓仪的培训

一、 培训承诺

    系统建成后，我公司将为业主提供为期1天的免费培训和技术资询；培训地点可以在我公司，亦或在工程现场；

    系统操作及管理人员的培训人数为10人，由业主指定，我公司将确保相关人员正确使用该系统；

1.1. 培训对象

    系统操作及管理人员（培训对象须具有专业技术的技术人员或实际值班操作人员）；

    其他业主指定的相关人员。

1.2. 培训内容

    系统操作使用说明书。

    培训课程的主要内容是系统的操作、系统的相关参数设定和修改和系统的维修与保养与简单升级等，具体内容如下：

    * 系统文档解读；

    * 系统的技术特点、安装维护和系统管理方式；

    * 系统一般故障排除。

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