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世界集成电路产业结构的变化及其发展历程，自1958年美国德克萨斯仪器公司(TI)发明集成电路（IC）后，随着硅平面技术的发展，二十世纪六十年代先后发明了双极型和MOS型两种重要的集成电路，它标志着由电子管和晶体管制造电子整机的时代发生了量和质的飞跃，创造了一个前所未有的具有极强渗透力和旺盛生命力的新兴产业集成电路产业。回顾集成电路的发展历程，我们可以看到，自发明集成电路至今40多年以来，"从电路集成到系统集成"这句话是对IC产品从小规模集成电路（SSI）到这里特大规模集成电路（ULSI）发展过程的较好总结，即整个集成电路产品的发展经历了从传统的板上系统（System-on-board）到片上系统（System-on-a-chip）的过程。TI是世界较大的半导体公司之一,成立之初为地质勘探公司，后转做军火供应商。CD74HCT86M96

集成电路检测常识：1、要注意电烙铁的绝缘性能，不允许带电使用烙铁焊接，要确认烙铁不带电，较好把烙铁的外壳接地，对MOS电路更应小心，能采用6~8V的低压电烙铁就更安全。2、不要轻易断定集成电路的损坏，不要轻易地判断集成电路已损坏。因为集成电路绝大多数为直接耦合，一旦某一电路不正常，可能会导致多处电压变化，而这些变化不一定是集成电路损坏引起的，另外在有些情况下测得各引脚电压与正常值相符或接近时，也不一定都能说明集成电路就是好的。因为有些软故障不会引起直流电压的变化。CD74HCT86M96LP8752是德州仪器(Texas Instuments)公司推出的低噪声、高PSRR、高效率4通道同步降压DCIDC转换器芯片。

当然现如今的集成电路，其集成度远非一套房能比拟的，或许用一幢摩登大楼可以更好地类比：地面上有商铺、办公、食堂、酒店式公寓，地下有几层是停车场，停车场下面还有地基——这是集成电路的布局，模拟电路和数字电路分开，处理小信号的敏感电路与翻转频繁的控制逻辑分开，电源单独放在一角。每层楼的房间布局不一样，走廊也不一样，有回字形的、工字形的、几字形的——这是集成电路器件设计，低噪声电路中可以用折叠形状或“叉指”结构的晶体管来减小结面积和栅电阻。各楼层直接有高速电梯可达，为了效率和功能隔离，还可能有多部电梯，每部电梯能到的楼层不同——这是集成电路的布线，电源线、地线单独走线，负载大的线也宽；时钟与信号分开；每层之间布线垂直避免干扰；CPU与存储之间的高速总线，相当于电梯，各层之间的通孔相当于电梯间……

接下来，我们把芯片命名的这套规律，套用在其他的品牌身上，来看看是不是也适用？TI德州仪器，逻辑芯片型号，TMS320LF2407APGEA，TMS是TI的前缀，320是系列，对应了品牌系列，中间LF表示了FLASH和电压，2407A是装置代码，这部分就对应了第二部分的参数，PGA表示封装，A表示温度，这就对应了我们第三个部分的结尾MICROCHIP美国微芯，型号，PIC18F67J60T-I/PT，PIC18F，是MICROCHIP的一个系列前缀，67表示内存，J60表示多项运行参数的区别。TPS7A88 LDO芯片具有宽输入电压范围，从2.25V至6V不等，输出电压范围从0.8V至5.5V可编程。

集成电路检测常识：1、检测前要了解集成电路及其相关电路的工作原理，检查和修理集成电路前首先要熟悉所用集成电路的功能、内部电路、主要电气参数、各引脚的作用以及引脚的正常电压、波形与外部元件组成电路的工作原理。2、测试避免造成引脚间短路，电压测量或用示波器探头测试波形时，避免造成引脚间短路，较好在与引脚直接连通的外部印刷电路上进行测量。任何瞬间的短路都容易损坏集成电路，尤其在测试扁平型封装的CMOS集成电路时更要加倍小心。集成电路(integratedcircuit，缩写：IC)2、二，三极管。TLV0834IDR

IC设计业作为集成电路产业的"先进企业"，为整个集成电路产业的增长注入了新的动力和活力。CD74HCT86M96

TI的电源芯片系列普遍应用于手机、平板电脑、无线通信设备、工业自动化、医疗设备等领域。TI电源管理芯片选型指南，参考设计和工具：TI提供了丰富的参考设计和工具，可以帮助设计师快速选择和评估电源管理芯片。您可以访问TI的官方网站，查找相关的参考设计和工具。总结起来，选择TI电源管理芯片时需要考虑应用需求、电源拓扑、效率要求、功能集成、尺寸和封装、特殊功能需求等因素。通过充分利用TI提供的参考设计、工具，您可以更好地选择合适的电源管理芯片，以满足您的设计需求。CD74HCT86M96