压缩机轴生产检测

在半导体行业，圆晶减薄当然是非常精密的加工过程。在减薄过程中，需要用接触式或非接触式传感器严格控制加工过程。从步骤来看，封装前，圆晶需要达到正确的厚度，这是半导体生产的关键。圆晶背面研磨（圆晶减薄）是一种半导体生产工序，在此期间需要严格控制圆晶厚度，使圆晶达到超薄的厚度，可叠放和高密度封装在微型电子器件中。马波斯传感器甚至可检测到砂轮与圆晶接触的瞬间或检查任何过载。同时，马波斯传感器可在干式和湿式环境中可靠地在线测量厚度。MARPOSS嗅探氦气泄漏测试方案能够测量10-2 - 10-4 SCC/sec的泄漏，该技术在漏率范围内取得了良好测试结果。压缩机轴生产检测

描述凡是使用有机电解液的电芯，均可通过这项技术来检测（纽扣电芯、圆柱电芯、方形电芯或软包电芯）。这项技术可跟踪锂离子电芯中常用的多种不同成分，例如碳酸二甲酯（DMC），碳酸二乙酯（DEC），碳酸甲乙酯（EMC），丙酸丙酯（PP）等。这项技术可在不同工艺阶段检测电芯：如，注液和密封后检测，化成后检测，degassing和**终密封后检测，还可在EOL测试中检测。测试期间电芯置于真空箱内。如果电芯外壳泄漏，电解液部分成分将气化，逸出电芯进入真空箱内。这项检测的基本原理就是：用四极质谱仪示踪电解液蒸汽，以此测量泄漏情况。此检测方法可用于大批量生产的生产线，检测速度快且全程自动化，满足电芯生产的高节拍要求。我们针对这项检测开发了一系列不同的工艺方式（专利申请中），可以有效缩短周期。根据电芯的类型（纽扣、圆柱、方形或软包）及尺寸不同，可对真空箱的尺寸和形状、真空箱内的电芯数量、测试周期等进行定制化设计。首页图片为采用电解液示踪技术自动检测电芯泄漏的方案，，该方案运用于纽扣电芯的自动化高节拍量产。为避免电芯污染真空箱，首先需要进行了一次大漏测试，以排除有明显泄漏缺陷的电芯。贵州转子检测设备马波斯将自动化和测试有效地结合在一起，马波斯将测试技术无缝整合到客户的作业流程中。

Optoquick可以快速、精细整个零件的质量测量只在数秒之间就可完成。其具有光学接触式测针马波斯专业测量经验轻松应对任何的测量挑战！另外，Optoquick柔性大,能够采用单个系统，兼容测量多个零件工业级在车间现场的性能较好。生产现场环境中的高精度测量因为Optoquick拥有前列的光电技术和马波斯设计，所以在测量性能、速度与柔性之间实现比较好的平衡。作为生产现场环境的比较好解决方案，它在准确性、重复性与稳定性方面体现出了稳定的测量性能。它可在恶劣环境条件下进行测试。即使现场温度变化大，它也能实现准确的动态温度补偿。

实际上，在进行量产阶段自动检测方面，马波斯能够提供有效的动力电池包的泄漏检测方案。在进行动力电池包泄漏检测的过程中，马波斯能够提供不同的泄漏检测方法，帮助客户检查电池托盘、电池框以及电池上盖的质量。与此同时，马波斯还能在生产线EOL阶段检测电池包成品的密封性。马波斯能够提供的动力电池包的泄漏检测方案包括以下方面，一方面，马波斯能够提供自动机器人氦气嗅探方案和维修工位手动氦气嗅探设备，另一方面，马波斯可提供累积室氦气整体检测方案，并且利用空气法检测冷却回路的气密性。局部放电绝缘测试是一种更复杂的技术，对外部电磁干扰不敏感，因此更适合在生产环境中使用。

然后，在真空箱内同时检测一个批次12只电芯，检测周期*需9秒钟。如检测发现不合格，则表示12只电芯全部判定不合格，这时可将该批次电芯同时放在另一台离线测台上做单独检测，以准确识别出报废的电芯。优势l适用范围广，适用于所有类型的电芯泄漏检测（纽扣，圆柱、方形或软包）l可在注液和密封后的任何工艺阶段检测l可用于不同类型的电解液检测l可轻松在生产线中实现检测自动化l无需为检漏而另外添加示踪气体l不影响整线生产节拍l检测速度快E.D.C.自1998年以来开发的用于局部放电绝缘测试的方法基于电容耦合技术。汽车照明系统检测设备方法

光学测量方案可集成用于hairpin端子的测量和检查,hairpin焊接工艺之前或之后皆适用。压缩机轴生产检测

在半导体的生产环节中，圆晶减薄是其中一个关键的生产环节。实际上，由于芯片已在圆晶上成形，减薄操作的任何失误都可能影响芯片成品率和成本。在减薄加工中，可用接触式或非接触式传感器测量，甚至可在去离子水中测量，进行严格在线控制。马波斯传感器甚至可检测到砂轮与圆晶接触的瞬间或检查任何过载。另外，马波斯传感器可控制的厚度从4µm到900µm（单侧测量），智能处理厚度数据，可正常控制超薄厚度和记录数据（黑盒功能）。压缩机轴生产检测