光谱共焦传感器品牌

Zenith采样频率：400Hz-5000Hz主要优势稳定通过15位编码增强性能，提供测量值稳定性非接触非接触式技术适用于所以不接触被测产品的情况下进行测量。全材料光谱共焦技术可测量各种能够反射的材料（例如：金属、玻璃、塑料、漆膜、液体等）。适配可更换的MARPOSSSTIL光学笔：CL-MG/OP/Endo/Everest系列同步主从模式的多传感器测量，编码器触发功能。应用汽车玻璃玻璃容器和包装行业(PCB)电子工业、3C、半导体行业（硅片）、精密仪器行业、电动车行业（电池）STIL光谱共焦传感器对被测物体表面颜色和光洁度无特殊要求，无论物体表面是漫反射或高光面，甚至是镜面。光谱共焦传感器品牌

STIL光学传感器为全球各个行业提供更好的质量控制,我们的产品系列适合于各种应用，为更高的质量标准提供可靠的控制和检测。1995年推出点光谱共焦传感器，2005年创新推出线光谱共焦传感器，2015出现线光谱共焦相机，通过持续创新，2025年将推出适用于工业4.0智能解决方案。在严苛的工业环境下客户要求速度、精度、质量和安全满足的同时，也要求减少对环境的影响和降低成本，这正是STIL传感器产品系列具有的优势。适用于任何材料同轴共焦原理兼容任何折射，同轴共焦原理，易于工业集成，大角度测量，符合ISO25178-602标准。光谱共焦的特点：1.共焦对环境光不敏感可过滤杂波；2.彩色光谱在测量范围内形成彩色光谱，各种景深3.光谱仪通过嵌入式光谱仪对反射或漫反射进行光谱分析，快速并精确4.同轴同轴光学设计，无阴影影响。可靠、精确、超高分辨率的尺寸测量；高速在线解决方案；适用各种材料和环境；优于传统测量方案的其他特性，如：大角度测量，亚微米级精度，测量多层厚度。天津stil传感器测量速度马波斯测量科技为您提供专业的光谱共焦传感器，期待您的光临！

非接触式晶圆厚度测量系统非接触式晶圆厚度测量系统是一种利用气体动静压原理工作的非接触式轴承，由于工作在平面度较好的花岗岩表面，因此本身也能获得非常理想的运动平面度及平顺性，特别适用于高精度检测以及超精加工领域。对射式非接触式同轴激光位移传感器测量•直线电机高精度龙门运动机构•兼容抛光、未抛光、透明及非透明晶圆测量•共面气浮移动轴承确保样品的移动获得极高的平面度及平顺性•兼容1-8英寸规格晶圆样品(可扩展至300mm12英寸产品)•晶圆的测量厚度范围为10um-20mm•抗震式花岗岩底座及高隔振一体式机架•比较大扫描速度1m/s•可自定义生成快速便捷的自动化测量模式•直观简单的2D或3D数据呈现方式•适用于厚度,TTV,LTV,TIR,Sori,Taper,Bow和Warp测量参数及标准

ENITH控制器采用比较高质量标准制造，是一款坚固可靠的产品，可满足车间环境（如实验室）中**苛刻的应用，是工业环境中光谱共焦控制器的全新选择。ZENITH控制器的柔性测量，可以将被测产品造成损害的可能性降低到零。基于以太网通讯，ZENITH可以在非接触的情况下实现高精度的测量，而不会对被测产品造成任何损坏。ZENITH框架紧凑，结构稳固，专为7天24小时全天候使用而设计。2ZENITH能够在各种类型的材料和物体表面进行超高分辨率的距离和厚度测量，包括各种反射性材料。3高频率采样是ZENITH与编码器（**多5个）结合用于外部测量同步的动态应用的理想选择之一。4ZENITH的控制器可兼容所有MARPOSSSTIL光学笔：CL-MG、OP、ENDO和EVEREST，实现达纳米级精度的计量表现。光谱共焦传感器，就选马波斯测量科技。

生物医疗-人造膝关节粗糙度测量符合ISO标准25178-602,传感器适用任何反射表面机械手表特别用于于在线测量的传感器比较大样本斜率±45°；高达±88°的漫反射微流体类通过塑料或玻璃等透明层，使用亚微米级分辨率测量微流体每秒可测量360,000点涡轮叶片特别用于于在线测量的传感器比较大样本斜率±45°；高达±88°的漫反射电池点对点厚度测量2个传感器和2个单通道控制器或1个双通道控制器点对点测量对于边缘区域可使用卡钳结构测量非接触式测量，一体化设计，3D轮廓扫描，多功能数据处理适用于各种材料的精确测量；使用简单，拆装方便，扫描速度快，定位精度高重复精度±0.5~±1µm；稳定性高，抗干扰能力强膜厚其他半导体用于膜厚的在线测量和质量控制非接触测量，适用于易变形和不透明的材料小厚度测量5µm，适用于在线应用高灵敏度和高精度可提供卡钳结构或测量设备可结合马波斯Quick-SPC软件进行数据处理马波斯测量科技致力于提供专业的光谱共焦传感器，欢迎您的来电哦！内蒙古光谱共焦传感器技术

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