2.5间距针座端子连接器

晶圆测试有一点基本就是：晶圆测试必须能够辨别芯片的好与坏，并使合格芯片继续进入下面的封装工艺。为了确保芯片功能和成品率的有效测试，封装厂商和设备制造者需要不断探索，进而找到高精度、高效率和低成本的测试方法，并运用新的组装工艺要求对晶圆片进行探测，这些要求将引起设备和工艺过程的重大变化。针座从操作上来区分有：手动，半自动，全自动，从功能上来区分有：温控针座，真空针座（低温针座），RF针座，LCD平板针座，霍尔效应针座，表面电阻率针座。针座有效降低测试治具的制作成本和制造时间，且结构合理，工作可靠。2.5间距针座端子连接器

半导体生产过程中的探测，可略分为三大类：1.参数探测：提供制造期间的装置特性测量；2.晶圆探测：当制造完成要进行封装前，在一系列的晶圆上(wafersort)测试装置功能；3.以针座为基础的晶圆处理探测(FinalTest)：在出货给顾客前，对封装完成的装置做后的测试。晶圆在通过基本的特性测试后，即进入晶圆探测阶段，此时需要用复杂的机器、视觉及软件来侦测晶圆上的每颗裸晶，精确度约在±2.0μm之间。将晶圆针座的输入输出针座垫片(I/Opads)放在接脚和针座正确对应的晶圆后，针座会将晶圆向上挪动，使其电气和连接于测试仪上的针座接触，以进行探测。当测试完成，则会自动将下一个待测晶圆替换到针座下面，如此周而复始地循环着。深圳针座开发定制针座可实现将连接器针座的各部件自动组装成连接器针座产品。

针座是检测芯片的重要设备，在芯片的设计验证阶段，主要工作是检测芯片设计的功能是否能够达到芯片的技术指标，在检测过程中会对芯片样品逐一检查，只有通过设计验证的产品型号才会量产。晶圆测试一般在晶圆厂、封测厂或专门的测试代工厂进行，主要用到的设备为测试机和针座。半导体的测试环节，主要包括芯片设计中的设计验证、晶圆制造中的晶圆测试（CP测试）和封装完成后的成品测试（FT测试）。半导体测试设备主要包括测试机、针座和分选机。在所有的测试环节中都会用到测试机，不同环节中测试机需要和分选机或针座配合使用。

可提高产能和高效的连接器针座，其机台上装设有送料轨道，针座本体送料机构，推料机构，第1排pin针送料组装机构，第二排pin针送料组装机构，pin针整形机构，第1排pin针折弯机构，第二排pin针折弯机构和卸料机构，送料轨道通过支撑座固定在机台上，推料机构的推料部位从送料轨道的进料端插入到送料轨道的内部，其余机构分别沿送料轨道的送料方向依次排布。可实现将连接器针座的各部件自动组装成连接器针座产品，其自动化程度和组装效率高，降低了劳动量，产品质量稳定，能有效提高产品合格率，并且能同时进行两个连接器针座产品的自动化组装，提高了产能。针座能够使得连接器密封，防止渗水或其他液体。

一种针筒式真空采集器的针座组件，包括血管穿刺针管，穿刺针座，采集针管，采集针座和软连接管，穿刺针座位于真空采集器的针筒内腔的前端，采集针座与该针筒固接，采集针管的后端及针管大部分向后延伸并能插置在套置在针筒中的血液样本收集管的管塞中;软连接管—端与穿刺针座固接，另一端与采集针座固接，软连接管的管芯作为密封腔与穿刺针座腔道以及采集针座的腔道连通。由于采集针座与针筒固接，当实施血液样本收集管套置入针筒的操作时，从血液样本收集管传递过来的操作力通过采集针座传递给针筒，而软连接管的柔性保证了该操作力不会传递给穿刺针座和穿刺针管，从而保证了从血液样本收集管传的操作力不会影响到穿刺针管。针座推力和转向金属钩的共同作用下，针座会翻转180度，杯底朝下落入轨道。广州探针针座

针座固定倒勾能够在该固定槽内移动。2.5间距针座端子连接器

接触电阻即针座尖与焊点之间接触时的层间电阻。通常不能给出具体的指标，因为实际的接触电阻很难测量。一般，信号路径电阻被用来替代接触电阻，而且它在众多情况下更加相关。在检测虚焊和断路的时候，针座用户经常需要为路径电阻指定一个标称值。信号路径电阻是从焊点到测试仪的总电阻，即接触电阻、针座电阻、焊接电阻、trace电阻、以及弹簧针互连电阻的总和。但是，接触电阻是信号路径电阻的重要组成部分。测试信号的完整性需要高质量的针座接触，这与接触电阻（CRes）直接相关。2.5间距针座端子连接器