江苏晶圆粗糙度检测传感器

时间:2021年06月16日 来源:

岱珂机电可为客户提供超声检测设备、检测标准及检测方案定制服务。已形成YTS100DXS200GSS300ZMS400等系列机型,产品通过CECSA认证,可满足低压电器焊接质量检测、金刚石缺陷和厚度测量、水冷板散热器检测、半导体封测等行业需求。YTS100一体式超声扫描显微镜结构紧凑、适应面广、经典机型。产品参数:整机尺寸:1.35m×0.95m×0.13m;最大扫描范围:350mm×200mm×110mm;典型扫描耗时:≤65s(区域10mmX10mm,分辨率50um);比较大扫描速度:300mm/s;运动台定位精度:X/Y±1umZ±10um测量头便于在线非接触式测量,紧凑轻便,即插即用。江苏晶圆粗糙度检测传感器

光谱共焦位移传感器——点传感器

CCS Prima、CCS Prima+

*流行的光谱共焦传感器、3D玻璃瑕疵检测仪器和精密结构件检测仪器。


测量频率:高达2K HZ CCD光电探测器,具有非常高的信噪比2通道和4通道,多通道型号可供选择(传输时间<400ms) 具备CCS系列控制器的所有优势。


属于STIL光谱共焦传感器的点传感器。点传感器测量点,位于光轴上的点的高度(Z坐标)。也可测量透明样品的厚度。包含控制器、光学笔和光纤线。光学笔可以在同一控制器上互换。


技术特点

CCS PRIMA是STIL光谱共焦传感器产品体系中一款 高  分辨率“点”式传感器。它基于光谱共焦成像、彩色光谱共焦成像(Chromatic Confocal Imaging, 简称CCI)原理,此原理基于2个原则:

1. 光谱共焦成像

2. 光轴的彩色编码,故光谱共焦传感器又可叫做彩色共焦传感器




视觉测量传感器口碑好上海岱珂机电设备有限公司是一家专业从事进口机电设备、仪器仪表及高精度检测设备的现代化企业。

光谱共焦位移传感器——点传感器

CCS Prima、CCS Prima+

当*流行的光谱共焦传感器,当*流行的3D玻璃瑕疵检测仪器和精密结构件检测仪器 


测量频率:高达2K HZ CCD光电探测器,具有非常高的信噪比2通道和4通道,多通道型号可供选择(传输时间<400ms) 具备CCS系列控制器的所有优势。



属于STIL光谱共焦传感器的点传感器。点传感器测量点,位于光轴上的点的高度(Z坐标)。也可测量透明样品的厚度。包含控制器、光学笔和光纤线。光学笔可以在同一控制器上互换。


CCS Prima、CCS Prima+配置

l 距离和厚度模式

l 高精度和高 分辨率

l 兼容所有CL-MG,OP,ENDO系列光学笔

l *多20支不同的光学笔,可在同一控制器上互换

l 建议用于OEM用户和工业应用

l USB和RS232 / RS422数字输出(SPS ALPHA和DUO:以太网)

l 2个0V-10V的模拟输出

l 与3个外部数字编码器同步

l 长寿命光源

l 高级功能:自动LED,第1高峰,双频,存储*后值,时间平均...

l 同步:主或从

l 配备多支光学笔

l 测量范围广(100µm - 20µm)

l 光学笔符合特定标准时有多种选择


潜望式长焦镜头的功能相信大家都不陌生,可以实现更多倍数的变焦拍摄,是近两年安卓旗舰手机都有益加入的一项技术。8P镜头则有助于提升相机的光学性能,相较于苹果目前的7P镜头,性能可提升10%~20%。

2019年,华为推出了P30系列,其中的P30 Pro***采用潜望式长焦镜头,并带来了5倍光学变焦、10倍混合变焦、50倍数码变焦的拍照实力。而去年发布的P40 Pro,全新潜望式长焦镜头的加入,更是带来10倍光学变焦、100倍数字变焦的新突破。除了华为,三星、小米等多家厂商也纷纷在手机中加入潜望式长焦镜头,用于提升手机相机在长焦拍摄方面的能力。

司逖测量技术(上海)有限公司为您提供光谱共焦位移传感器,在线精密测量方案。司逖测量技术(上海)有限公司为客户提供颠覆传统激光三角测距法,全新测量原理的光谱共焦传感器,STIL来自法国的光谱共焦发明者,3D尺寸精密测量方案提供者。 产品创新技术与激光相比,热量的延迟和衰减通过高级算法与厚度相关联。

机器视觉检测主要用计算机来模拟人的视觉功能,但并不仅*是人眼的简单延伸,更重要的是具有人脑的一部分功能一一从客观事物的图像中提取信息,进行处理并加以理解,**终用于实际检测、测量和控制。一个典型的工业机器视觉检测应用系统,包括数字图像处理技术、机械工程技术、控制技术、光源照明技术、光学成像技术、传感器技术、模拟与数字视频技术、计算机软硬件技术、人机接口技术等。 由于机器视觉是自动化的一部分,没有自动化就不会有机器视觉,机器视觉软硬件产品正逐渐成为协作生产制造过程中不同阶段的 系统,无论是用户还是硬件供应商都将机器视觉产品作为生产线上信息收集的工具,这就要求机器视觉产品大量采用标准化技术,直观地说就是要随着自动化的开放而逐渐开放,可以根据用户的需求进行二次开发。我们对精密测量的热情,驱使我们彻底改变纳米级运动和分析。珠海晶圆粗糙度检测传感器

使用STIL DUO控制器及多层测厚软件,可以轻松测量多达9层透明物体的厚度。江苏晶圆粗糙度检测传感器

点传感器的相关软件说明


CCS Manager

●一个非常强大的可执行程序,允许在段时间内使用CCS、STIL-DUO或STIL-VIZIR传感器进行测量。

●拥有非常友好的人机界面,容易取得精确测量结果,且对CCS传感器进行相关设置操作。

●可升级传感器固件,以便获得即时优化和STIL工程师开发的即时功能

●控制器的现场校准

●下载传感器的校准表,以便CCS控制器配置使用更多光学笔

●特别的的“诊断”功能,允许记录传感器的当前状态到文件。可以直接发送到STIL的应用与支持部门。


DLL

●提供一种强大的软件开发工具包,使STIL传感器很容易和客户应用进行对接。其主要功能:

●初始化并且通过RS232、以太网、或USB连接传感器

●接收/设置传感器配置,如:采样率、测量模式(距离/厚度)、光学笔选择、数据输出设置、模拟输出设置

●测量传感器“暗”信号

●启用禁用硬件触发模式

●通过其他程序启动测量

●与其他程序同步测量

●获取传感器状态和“ **终报错”参数


多层测厚软件

●STIL-DUO传感器的多峰软件,允许测量多层透明样本的厚度(可达10层


江苏晶圆粗糙度检测传感器

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