电网专用ZH580三光融合成像仪增益

紫外线成像仪的基本原理

在高压设备电气放电时，根据电场强度的不同，会产生电晕、闪络或电弧。在放电过程中，空气中的电子不断获得并释放能量，而当电子释放能量时，会释放出紫外线。紫外成像技术就是利用这个放电现象，通过紫外光滤光技术和紫外光像增强技术能够接收到高压电气设备放电时产生的微弱紫外线信号，仪器同时采集可见光图像，经图像融合处理后，将融合图像显示在仪器屏幕上，达到确定电晕放电的精细位置和放电强度的目的，从而为评估电气设备运行情况提供可靠依据。 公司主要产品为紫外线成像仪、红外热像仪、智能巡检机器人、紫外校准系统等。电网专用ZH580三光融合成像仪增益

我司日盲型紫外成像仪完全符合《电力设备带电检验仪器技术规范第3部分：紫外成像仪技术规范》

日盲紫外成像仪的性能具体要求如下：

a） 紫外/可见光叠加精确度≤1mrad（视场角为3°～10°时）；

Q / GDW 11304.3—2015

b） 可见光感光灵敏度≤1lux（光照度）；

c） 视频标准：PAL 或NTSC 标准兼容，视频文件帧频应不低于25 帧/秒；

d） 紫外通道工作波段应在日盲紫外波段范围内；

e） 显示屏分辨率宜≥600×480

像素，显示亮度宜≥450cd/m2；

f） 紫外光检测灵敏度≤3×10−18W/cm2；

g） 检测距离10m 时，放电检测灵敏度≤15pC；

h） 紫外成像角分辨率≤5mrad（视场角为3°～10°时）；

i） 紫外成像每像高线数≥15 线/像高（视场角为3°～10°时）；

j） 有效检测距离值应≥50m；

k） 聚焦距离至少应包含5m～∞范围；

l） 带外抑制指数应≤30 光子数/秒。

★输变电设施会产生核辐射吗？

不会。核辐射是由放射性物质产生的，它属于电离辐射。而输变电设施产生的是工频电场和工频磁场，与核辐射完全不是一回事，输变电设施不可能产生核辐射。

★为什么有的变电站要建在居民区内？

随着城市建设的不断发展，居民区越来越多，负荷密度越来越大，每户居民的用电量也随着生活水平的提高在不断增加，而一座变电站的供电能力和供电范围又是有限的。因此，为了满足居民的用电需求，保证供电可靠性和供电质量，在居民区建设变电站是难以避免的。 紫红的紫外成像仪咋样？

电晕 /电弧放强度等级分段 电弧放强度等级分段

电弧放强度等级分段 电弧放强度等级分段 电弧放强度等级分段 电弧放强度等级分段

高强度放电：光子数＞8000/min。

中等强度放电：1000＜光子数≤8000/min。

低强度放电：光子数≤1000/min。

根据电晕放电缺陷对带电设备或电网运行的影响程度，提出三类缺陷的不同严重程度和处置方式：

——*一类：设备存在低强度放电，且不影响带电设备正常运行，后期观察关注；

——第二类：设备存在中等强度放电，且可能影响带电设备正常运行，应增加检测频次，在计划的停电期间进行检修维护；

——第三类：设备存在高强度放电，且明显影响带电设备正常运行，或诊断评估设备缺陷短期内

可造成设备或电网事故，应尽快安排停电检修或更换处理。 紫外线成像仪有ZH380紫外模组、ZH480双视场紫外线成像仪。日盲型ZH580三光融合成像仪使用方法

紫外成像仪的型号区分有哪些？电网专用ZH580三光融合成像仪增益

紫外检测人员要求

应用紫外成像仪对带电设备电晕放电检测是一项带电检测技术，从事检测人员应具备如下条件：

——了解紫外成像仪的基本工作原理、技术参数和性能，掌握仪器的操作程序和测试方法；

——通过紫外成像检测技术的培训，熟悉应用紫外成像仪对带电设备电晕检测的基本技术要求；

——了解被检测设备的结构特点、外部接线、运行状况和导致设备缺陷的基本因素；

——具有一定现场工作经验，熟悉并能严格遵守电力运行和工作现场的有关安全规程及规定。 电网专用ZH580三光融合成像仪增益

上海紫红光电技术有限公司是一家研发、生产、销售、服务为一体，由行业出色的科技人员组建的设备公司，注册资本500万。我公司是一家专注于电气设备的带电检测与故障诊断，紫外成像仪、红外热像仪、巡检机器人等产品的创新、推广、应用。公司具有雄厚的技术支撑和丰富的经验，拥有多名电气、自动化、光信息技术等领域的人才，专注服务于电网系统、电气化铁路、电厂等行业。主要产品公司主要产品为紫外线成像仪、红外热像仪、智能巡检机器人、紫外校准系统等。可以长时间监智慧电网、电厂和电气化化铁路带电设备，对电气设备的温度异常、电晕放电进行常规巡检、检修以及在线监测。紫外线成像仪有ZH380紫外模组、ZH480双视场紫外线成像仪、ZH580三光融合成像仪及紫外在线监测快速诊断系统；红外热像仪有IR358高清红外热像仪、IR336中端红外热像仪及红外在线监测系统；ZH780三光一体式八驱智能巡检机器人及紫外成像仪校验系统。