常州ICT自动化测试仪器厂家

时间:2024年04月05日 来源:

关于PCBA制作ICT治具的注意事项,附A、测试点位置考虑顺序(每一铜箔不论形状如,至少需要一个可测试点):1、ACI插件零件脚优先考虑为测试点。2、铜箔露铜部份(测试PAD),较好能上锡。3、立式零件插件脚。4、ThroughHole不可有Mask。附B、测试点直径:1、1mm以上,以一般探针可达到较佳测试效果。2、1mm以下,则须用较精密探针增加制造成本。3、点与点间的间距较好大于2mm(中心点对中心点)。附C、双面PCB的要求(以能做成单面测试为考虑重点):1、SMD面走线较少须有1throughhole贯穿至dip面作为测试点,由dip面进行测试。2、若throughhole须mask时,则须考虑于throughhole旁lay测试pad。3、若无法做成单面,则以双面治具方式制作。4、空脚在可允许的范围内,应考虑可测试性,无测试点时,则须拉点。5、BackUpBattery较好有Jumper,于ICT测试时,能有效隔离电路。ICT治具测试的盲点:当小电容与小电阻并联时,小电容无法被准确测量。常州ICT自动化测试仪器厂家

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ICT测试治具应力测试的重要性?对PCB板做一个应变测试,把容易产生的高压力的流程中很大应力测量出来,确定应力处于允许的范围内。如果应力值过大,可以重新制造或者设计ICT测试治具、按要求改变流程,使得应变值下降到允许范围之内。我们在符合标准的前提下,对很多大型代工厂提供相关的ICT测试治具应力测试服务,同时发现不少ICT测试治具存在应力过大的问题,需要调整,对PCB装配测试流程来说还是需要进行应力应变测试的,提高自己产品的竞争能力。合肥在线ICT自动化测试治具多少钱ICT测试治具有单面双面之分,通用天板方便交换机种,使用可调培林座,容易保养。

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应用扩展:除了ICT测试过程外,类似活动包括四点弯曲测试、电路板子卡或连接器插入过程、分板过程、散热器连接、对电路板的不适当支撑等都会引起电路板过应力失效,这些也可以通过Sherlock的ICT测试模块进行仿真。ICT技术参数:1)测试速度测试一块电路板的较少时间。测试速度与电路板的复杂程度有关。2)测试范围电阻的测试范围:一般0.05Ω~40MΩ;电容的测试范围:一般1pF~40000μF电感的测试范围:一般1μH~40H5)测试电压、电流、频率测试电压一般为0~10V测试电流一般为1μA~80mA频率一般为1Hz~100KHz6)电路板尺寸较大的电路板尺寸一般为460×350mm。

测试针带动ICT测试冶具的运行吗?随着信息技术时代的发展,而今信息化表示了世界发展的潮流。信息产业不仅推动了全球的经济发展,而且成为科技创新的中心力量。ICT市场前景广阔,那ICT测试治具来说吧:ICT测试冶具是整个ICT设计、流片、应用过程中不可或缺的一环,它不仅可帮助厂商大幅节省测试成本,且测试结果直观可靠。测试针是ICT测试冶具中的重要零件之一,那么它主要起到了什么作用呢?1、增强耐用度:ICT测试冶具测试针设计使弹簧空间比传统探针要大,因而可以达到更长的寿命和容纳更强的弹力。2、独有的一直不间断电接触设计:行程超过或不足2/3其电性接触皆能保持性低阻值,彻底消除任何因探针导致的假性开路误叛。3、至目标测点准确度误差更严谨:ICT测试冶具的测试针能达到同类型产品无法比拟的至目标测点准确度。ICT测试冶具通用性高,只需更换颗粒限位框,即可测试尺寸不同的颗粒;采用超短进口双头探针设计,相比同类测试产品,可使ICT和PCB之间的数据传输距离更短,从而保证测试结果更稳定,频率更高,DDR3系列较高频率可达2000MHz。ICT治具是一种利用电脑技术,在大批量生产的电子产品生产线上。

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如何做ICT测试治具的预防性保养计划:ICT测试是工厂测试过程中的道测试工序,对于工厂产品质量的提高有很大的影响,ict测试治具在实际的使用中,用量也是很大的,如何对ict测试治具进行保养来有效的减少工厂的测试成本呢?下面来为大家介绍ict测试治具如何进行预防性保养计划。1、被测板应准确对准定位销后轻置于测试针床上,严禁在测试针床上拖带被测板;2、被测板元件管脚长度小于2mm;3、测试针床上压板压杆和测试针床定位销一有松动应立即旋紧;4、每日测试完毕后用铜刷轻轻全部测试探针针尖(不建议经常刷,这样容易损坏探针镀金层);5、每日测试完毕后用吹尘头吹去针床上杂物,并用毛刷刷净针床;6、严禁将(加过电)进行过功能测试后的待测板用在线测试仪测。ICT治具的优点:ICT测试发现故障时,将出错的元件列印出来,维修工人可快速找到故障原因和维修。长沙在线ICT测试仪器报价

ICT治具测试的盲点:当大电阻与大电容并联时,大电阻无法被准确测量。常州ICT自动化测试仪器厂家

ICT测试不良及常见故障的分析方法:A、如果测试值与标准值比较只是发生了较大的偏移,而不是量测值为无穷大的情况,则可能存在的原因有以下几个方面:(1)错件;(2)有内阻的被动组件的影响;(3)测试点有问题。B、如果量测值与标准值比较只是发生了很小的偏移,这种情况多为零件误差引起的,但是为了准确起见,较好是通过比较的方法看是否真的是由于误差的原因而造成的量测值偏移,如果由于误差的原因造成的话,需由工程人员作相应的程序调整。常州ICT自动化测试仪器厂家

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