云南纳米粒度分析仪

EyeTec浓度测量：除了颗粒大小，激光和颗粒交互产生的信号可以提供非常有用的颗粒浓度信息。EyeTech记录全部的交互信号。因为旋转的激光的检测范围是一定的，所以颗粒浓度可以计算出来。了解颗粒数据库系统：可通过鼠标点击调出每个已检测颗粒的详细数据信息，包括图像、图形和参数；颗粒数量无限制；颗粒信息易于输出至Excel进行进一步处理；提供颗粒信息数据库，数据挖掘便于分析对比和统计。动态粒形分析的形状和粒径相关数据可提供关于单个颗粒丰富的信息。山东驰光机电科技有限公司生产的产品受到用户的一致称赞。云南纳米粒度分析仪

测量低密度颗粒：示差沉降法过去一般用于测量密度大于分散介质液体密度的颗粒，CPS开发了一项新的技术技术(US Patent5,786,898)。很多用常规示差沉降法很难或者不可能分析的材料(例如油乳液、蜡乳液、粘性乳液或脂质体)，现在可以方便地使用CPS进行分析，而且精度很高。速度调节：CPS开发了一种特殊的圆盘设计使得在分析过程中可以调节圆盘的转速，而不会对沉降液体产生扰动，转速可以在20倍范围内升高或者降低，这样一来就使得分析的动态范围几乎增大了20倍。陕西二氧化钛粒度分析仪报价驰光机电科技有着优良的服务质量和良好的信用等级。

据统计，2021年我国PTA将迎来投产前端期，基本都是行业前端企业配套上下游的规划项目，其中恒力石化2021年在广东惠州设计产能达到500万吨，预计2021年我国PTA计划投产PTA产能1650万吨（保底1160万吨），预计2022年我国PTA计划投产PTA产能570万吨。CPS高精度纳米粒度分析仪CPS高精度纳米粒度分析仪有三种型号：DC12000型、 DC18000型 和 DC24000UHR型。CPS纳米粒度分析仪是目前世界上分析速度快、分辨率较高以及灵敏度较好的离心沉降式纳米粒度分析仪，它可以分析任何粒度分布介于0.005微米和75微米之间的颗粒。

CMP(化学机械抛光)工艺中磨料颗粒的高精度粒径表征随着半导体工业飞速发展，电子器件尺寸缩小，要求晶片表面平整度达到纳米级。CMP工艺作为芯片制造业不可或缺的一个部分，其对于磨料的颗粒粒度表征要求十分重要。CMP过程中使用的磨料颗粒典型尺寸范围是10-200nm，其颗粒表征要求精确地确定纳米级颗粒的尺寸，因此高分辨率纳米粒度分析仪是磨料颗粒表征的完美解决方案。磨料对CMP工艺起着至关重要的作用！欢迎选用CPS纳米粒度分析仪为您完美解决磨料颗粒问题！驰光机电团队从用户需求出发。

CPS分析仪基本原理：CPS纳米粒度分析仪依据Stokes定律，V=D²(ρP-ρF)G/18η，即颗粒沉降的速度与颗粒的尺寸平方成正比来进行粒度的测量。待测样品从圆盘中心进入高速旋转的圆盘，在离心力的作用下发生沉降，沉降的速度遵循Stokes公式，在距离圆盘的边缘固定位置设有激光检测器，颗粒按尺寸大小依次通过探测器，仪器记录颗粒通过探测器的时间，由于所有颗粒走过的路程都一样，因此，颗粒运动所需的时间与颗粒本身尺寸的平方成反比，激光检测器同时检测颗粒对光的散射程度。选择驰光机电科技有限公司，就是选择质量、真诚和未来。宁夏二氧化钛粒度分析仪

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光电探测器阵列由一系列同心环带组成，每个环带是一个单独的探测器，能将投射到上面的散射光线形地转换成电压，然后送给数据采集卡，该卡将电信号放大，再进行AID转化后送入计算机。激光粒度仪依据全量程米氏散射理论，充分考虑到被测颗粒和分散介质的折射率等光学性质，根据激光照射在颗粒上产生的散射光能量反演出颗粒群的粒度大小和粒度分布规律。激光粒度仪注意事项：本仪器适用于＜1mm粒度测定，＞1mm的应过筛测定；必须先开计算机电源，工作正常后，再开仪器电源，顺序不能反了，否则信号送不到计算机。云南纳米粒度分析仪

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