安徽精密光纤调整架大恒光电测量系统

大恒光电精密镜架产品介绍大恒光电提供多种精密镜架产品，适用于透镜、反射镜的夹持和微调。这些镜架产品具有高精度、稳定性和多种规格，能够满足不同应用场景的需求。1. GCM-0858 精密透镜/反射镜架特点：适用于多种尺寸的透镜和反射镜夹持，提供稳定的支撑和微调功能。2. GCM-0868 精密透镜/反射镜架特点：提供更高的精度和稳定性，适用于高精度光学实验。3. GCM-0878 三旋钮透镜/反射镜架特点：三旋钮设计，便于多维度调整，适用于复杂的光学系统。4. GCM-08231 角开口式透镜/反射镜架特点：角开口设计，便于快速安装和更换光学元件。5. GCM-08081 薄型带锁紧透镜/反射镜架特点：薄型设计，适用于空间受限的光学系统。电控平移台采用直线导轨或十字交叉滚柱导轨作为承载导轨，具有较大的承载能力和较高的精度。安徽精密光纤调整架大恒光电测量系统

大恒光电光学透镜产品介绍大恒光电（DHC）提供多种高性能光学透镜产品，广泛应用于科研、工业、医疗和光通信等领域。以下是其主要光学透镜产品及其特点：1. 凸透镜大恒光电提供多种类型的凸透镜，包括：K9平凸透镜石英平凸透镜激光平凸透镜K9双凸透镜双胶合消色差透镜傅里叶变换透镜带框凸透镜平凸柱面镜透镜组. 凹透镜大恒光电提供多种类型的凹透镜，包括：K9平凹透镜石英平凹透镜激光平凹透镜K9双凹透镜双胶合消色差负透镜带框凹透镜平凹柱面镜湖北等边棱镜大恒光电网站偏压探测器内部不带放大电路，但可以实现信号快速测量响应。

大恒光电的直线位移台产品种类丰富，涵盖了高精密不锈钢平移台和电控平移台等多种类型，满足不同应用场景的需求。应用场景：光纤耦合光学实验光通信系统2. GCD-20/40 系列电控平移台GCD-20/40 系列电控平移台采用直线导轨或十字交叉滚柱导轨作为承载导轨，具有较大的承载能力和较高的精度。特点：采用直线导轨或十字交叉滚柱导轨，承载能力大，适宜做大行程、重载型平台。采用滚珠丝杠或精研丝杠，运动平滑、无爬行，可承受较大载荷。系统分辨率高，重复定位精度高。应用场景：光学实验中的精密调整光通信系统中的光纤耦合工业自动化中的精密定位

大恒光电提供多种光源产品，适用于科研、工业和教育等多个领域。以下是其主要光源产品及其特点：1. LED 光源大恒光电的LED光源广泛应用于光学实验和教学场景，具有高效、稳定和低能耗的特点。型号：GCI-0604 系列 LED 光源：适用于多种波长范围，提供稳定的光输出。GCI-0601 直流调压光纤光源：可调节光强，适用于光纤耦合。2. 光纤耦合半导体激光器这些激光器适用于需要高功率和高稳定性的应用场景，如激光加工和科研实验。型号：GCI-LD 光纤耦合半导体激光器：提供高功率输出，适用于多种激光应用。3. 半导体激光控制器用于精确控制半导体激光器的功率和温度，确保激光输出的稳定性和可靠性。型号：GCI-0901 半导体激光控制器：具备先进的TEC制冷器控制技术，可精细控制激光功率和工作温度。
偏振分光棱镜则广泛应用于增强现实、抬头显示系统、微型投影设备等多种应用场景。

大恒光电（DHC）提供多种高性能衍射光栅产品，广泛应用于光谱分析、光通信、激光系统等领域。以下是其主要衍射光栅产品及其特点：1. 平面反射光栅（GCG系列）平面反射光栅是一种常用的光学色散元件，通过周期性分布的刻槽对入射光进行衍射，将不同波长的光分散到不同方向。特点：闪耀光栅设计，比较大衍射光强能级闪耀落在零级光谱以外区域。高衍射效率，可达60%-80%。多种尺寸规格，如12.5mm×12.5mm和25mm×25mm。光栅背面抛光处理，侧面标记有箭头指示光栅方向。损伤阈值高，例如在532nm条件下，典型测试值为150mJ/cm²（532nm, 10ns, 10Hz）。应用：光谱分析仪器，用于将复合光分解为不同波长的光谱。激光系统中的光束整形和光谱分析。光通信系统中的信号分光和合光。
大恒光电的太赫兹光源及相关设备，适用于太赫兹光谱分析和成像应用。安徽精密光纤调整架大恒光电测量系统

空间滤波器用于空间滤波，适用于高精度光学系统。三维调节，适用于空间滤波。安徽精密光纤调整架大恒光电测量系统

大恒光电的光纤调整架产品种类丰富，涵盖了高精密三维光纤调整架、精密光纤俯仰调整架、裸纤夹持器和多种转接件。GCX-FA250M 裸纤夹持器特点：用于夹持0.25 mm光纤，通过磁性压块方式将光纤固定到V型槽中。提供左右手版本（GCX-FA250MR 和 GCX-FA250ML），方便用户根据搭建的系统位置进行选择。应用场景：实验室光纤固定光学实验中的裸纤固定4. GCX-FA 转接件特点：提供多种转接件，用于不同接口类型的光纤连接。包括FC/PC、FC/APC、SMA等接口转换件。应用场景：光纤接口转换光学系统中的光纤连接安徽精密光纤调整架大恒光电测量系统