DDR测试眼图测试保养

（5）眼图测量中需要叠加的波形或比特的数量：在眼图测量中，叠加的波形或比特的数量不一样，可能得到的眼图结果会有细微的差异。由于随机噪声和随机抖动的存在，叠加波形或比特数量越多，眼的张开程度就会越小，就越能测到是恶劣的情况，但相应的测试时间也会变成。为了在测量结果的可靠性以及测量时间上做一个折中，有些标准会规定眼图测量需要叠加的波形或比特数量，比如需要叠加1000个波形或者叠加1Mbit。

（6）眼图位置的选择:当数字信号进行波形或者比特叠加后，形成的不只是一个眼图，而是一个个连续的眼图。如果叠加的波形或者比特数量足够，这些眼图都是很相似的，因此可以对其中任何一个眼图进行测量。 眼图测试设备的研究与设计？DDR测试眼图测试保养

示波器作为时域或数字电路信号测量与测试重要的仪器设备，本质上是作为相对被测信号或系统的接收机在工作，因此其根本的价值在于真实还原或复现被测信号。在早年的并行总线电路系统的设计和测试中主要扮演简单的信号检测和调试的角色，而在的高速数字电路系统的研发和测试中扮演越来越重要的地位，已经从简单的信号检测与调试用途转化为高速数字信号的处理和分析平台，包括眼图及抖动分析和调试，均衡和去嵌处理等，以及终量产前的一致性(Compliance)测试即检验产品是否符合出货标准。当然示波器还有另一重要使用场景在高速数据采集场合。为什么眼图测量已经成为高速串行数据测试的重要的项目？波形参数测试是数字信号质量评估常用的测量方法，但是随着数字信号速率的提高，靠幅度、上升时间等的波形参数的测量方法越来越不适用了。因此我们必须采用别的方法对于信号的质量进行评估，对于高速数字信号来说常用的就是眼图的测量方法。所谓眼图，实际上就是高速数字信号不同位置的数据比特按照时钟的间隔叠加在一起自然形成的一个统计分布图。智能化多端口矩阵测试眼图测试销售价格眼图测试产品服务应用领域。

眼图与性能的关系眼图的"眼睛"张开的大小反映着码间串扰的强弱。"眼睛"张的越大且眼图越端正表示码间串扰越小;反之表示码间串扰越大。当存在噪声时噪声将叠加在信号上观察到的眼图的线迹会变得模糊不清。若同时存在码间串扰"眼睛"将张开得更小。与间串扰时的眼图相比原来清晰端正的细线迹变成了比较模糊的带状线而且不很端正。噪声越大线迹越宽越模糊;码间串扰越大眼图越不端正。理论分析得到如下几条结论在实际应用中要以此为参考从眼图中对系统性能作一论述:(1)抽样时刻应在"眼睛"张开的时刻。(2)对定时误差的灵敏度可由眼图斜边的斜率决定。斜率越大对定时误差就越灵敏。(3)在抽样时刻上眼图上下两分支阴影区的垂直高度表示信号畸变。(4)眼图的横轴位置应对应判决门限电平。(5)在抽样时刻上下两分支离门限近的一根线迹至门限的距离表示各相应电平的噪声容限噪声瞬时值超过它就可能发生错误判决。(6)对于利用信号过零点取平均来得到定时信息的接收系统眼图倾斜分支与横轴相交的区域的大小表示零点位置的变动范围这个变动范围的大小对提取定时信息有重要的影响。

    原理描述1.眼图的形成对于数字信号，其高电平与低电平的变化可以有多种序列组合。以3个bit为例，有000~111共8种组合。在时域上将足够多的上述序列按某一个基准点对齐，然后将其波形叠加起来，就形成了眼图。2.传统眼图生成方法传统眼图生成方法原理简单，很适合理解眼图生成机制传统的眼图生成方法简单描述就是“每次触发叠加一个UI”。方法简单，但效果并不理想。由于屏幕上的每个UI信号波形通过触发点对齐，眼图通过对信号多次触发采集后叠加生成。这样会导致仪器触发电路的抖动成分将被引入到眼图测量中。导致了测量不精确。3新的眼图生成方法新的眼图方法描述为“同步切割＋叠加显示”。示波器首先捕获一组连续比特位的信号，然后用软件PLL方法恢复出时钟，利用恢复出的时钟和捕获到的信号按比特位切割，切割一次，叠加一次，将捕获到的一组数据的每个比特位都叠加到了眼图上。 眼图参数有很多，如眼高、眼宽、眼幅度、眼交叉比、“1”电平，“0”电平，消光比，Q因子，平均功率等。

克劳德高速数字信号测试实验室什么叫眼图眼图是在示波器的横轴上把一串串比特周期叠加，形成眼样波形。图中：眼高意味噪声；眼宽意味抖动。从眼图上可以观察出码间串扰和噪声的影响，体现了数字信号整体的特征，从而估计系统优劣程度，因而眼图分析是高速互连系统信号完整性分析的中心。另外也可以用此图形对接收滤波器的特性加以调整，以减小码间串扰，改善系统的传输性能。观察眼图的方法是:用一个示波器跨接在接收滤波器的输出端，然后调整示波器扫描周期，使示波器水平扫描周期与接收码元的周期同步，这时示波器屏幕上看到的图形像人的眼睛，故称为"眼图"。对符号波形序列所显示的眼图性能参数进行度量的过程。广东校准眼图测试推荐货源

一种眼图测试方法和眼图测试系统？DDR测试眼图测试保养

DDR眼图测试1-4

DDR4 做测试时，由于 BGA 信号难以探测，是德科技提供了 N2114A/N2115A 等DDR4 Interposer，将 BGA 下方的信号引到 Interposer ，方便探头焊接，为了减少 Interposer 对信号带来影响，在 interposer 内专门有埋阻设计，减少由于分支和走线带来的阻抗不连续和对信号的负载效应；但为了精确测量，我们需要对 BGA Interposer 带来的误差进行修正。可以通过 InfiniiSim 或在 DDR4 一致性测试软件N6462A 内进行去嵌，在软件内使用多端口拓扑模型，载入 Interposer 的S 参数，生成从探头测试点到 BGA 焊球位置的去嵌传递函数，在示波器中测得去嵌后的波形，下图可以看到去嵌后信号眼图的改善。 DDR测试眼图测试保养

深圳市力恩科技有限公司是一家集研发、制造、销售为一体的高新技术企业，公司位于西丽街道曙光社区中山园路1001号TCL科学园区F2栋A401，成立于2014-04-03。公司秉承着技术研发、客户优先的原则，为国内{主营产品或行业}的产品发展添砖加瓦。克劳德目前推出了实验室配套，误码仪，协议分析仪，矢量网络分析仪等多款产品，已经和行业内多家企业建立合作伙伴关系，目前产品已经应用于多个领域。我们坚持技术创新，把握市场关键需求，以重心技术能力，助力仪器仪表发展。深圳市力恩科技有限公司研发团队不断紧跟实验室配套，误码仪，协议分析仪，矢量网络分析仪行业发展趋势，研发与改进新的产品，从而保证公司在新技术研发方面不断提升，确保公司产品符合行业标准和要求。实验室配套，误码仪，协议分析仪，矢量网络分析仪产品满足客户多方面的使用要求，让客户买的放心，用的称心，产品定位以经济实用为重心，公司真诚期待与您合作，相信有了您的支持我们会以昂扬的姿态不断前进、进步。