测量解决方案参数

玻璃的平面度检测机适用于手机、平板等产品，对产品的玻璃表面进行平面度检测，采用高数据采集率，以保证高效率的测量。岱珂手机屏幕全自动点胶线使用3D线激光相机，扫描手机的屏幕（支架）四周点胶面生成点云数据，根据生成的胶路点云数据并对胶路数据进行测量。岱珂手机摄像头支架检测主要是对手机摄像头支架进行平面度、高度、孔径、黑色内圈和外圈尺寸等进行检测。岱珂传感头可按客户需求定制，提供定制服务，提供适合特定应用的传感器。通常指解决问题的方法。测量解决方案参数

3.面片扫描(Patch Scan)

面片扫描方式允许扫描一个区域而不再是扫描线。应用该扫描方式至少需要四个边界点信息，即开始点、方向点、扫描长度和扫描宽度。PC DMIS可根据基本(或缺省)信息给出的边界点1、2、3确定三角形面片，扫描方向则由D的坐标值决定；若增加了第四或第五个边界点，则面片可以为四方形或五边形。采用面片扫描方式时，在复选框中选择“闭线扫描”，表示扫描一个封闭元素(如圆柱、圆锥、槽等)，然后输入起始点、终止点和方向点。终止点位置表示扫描被测元素时向上或向下移动的距离；用起始点、方向点和起始矢量可定义截平面矢量(通常该矢量平行于被测元素)。现以创建四边形面片为例，介绍面片扫描的几种定义方式： 智能解决方案技术指导IT厂商的需求分析与定位。

光波干涉法常利用平晶进行，图为测量所得的不同干涉条纹。图中a的干涉条纹是直的，而且间距相等，只在周边上稍有弯曲。这说明被检验表面是平的，但与光学平晶不平行，而且在圆周部分有微小的偏差。图中b的干涉条纹弯曲而且间隔不相等，表明被检验表面是球形的，平晶有微小倾斜。条纹弯曲度约为条纹间距的1.5倍，表示平面度误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中c的干涉条纹呈圆形，同样表明被检验表面是球形表面。将条纹数目乘以所用光束波长的一半，即得所求的平面误差为1.5×0.3μm=0.45μm。图中d的干涉条纹成椭圆形排列，说明被检验表面是桶形的。可以把干涉图案作为被检验表面的等高线，因此可以画出该表面的形状。这种方法只适宜测量高光洁表面，测量面积也较小，但测量精确度很高。

5.L形桥架型(L-Shpaedbridgetype)

L形桥架型，这个设计乃是为了使桥架在轴移动时有较小的惯性而作的改变。它与移动桥架型相比较，移动组件的惯性较少，因此操作较容易，但刚性较差。

6.轴移动悬臂型(Fixedtablecantileverarmtype)

轴移动悬臂型，轴为主轴在垂直方向移动，厢形架导引主轴沿着垂直轴的水平悬臂梁在轴方向移动，悬臂梁沿着在水平面的导槽在轴方向移动，且垂直于轴和轴。此型为三边开放，容易装拆工件，且工件可以伸出台面即可容纳较大工件，但因悬臂会造成精度不高。 机器视觉应用解决方案。

2、打表测量法：打表测量法是将被测零件和测微计放在标准平板上，以标准平板作为测量基准面，用测微计沿实际表面逐点或沿几条直线方向进行测量。打表测量法按评定基准面分为三点法和对角线法：三点法是用被测实际表面上相距较远的三点所决定的理想平面作为评定基准面，实测时先将被测实际表面上相距较远的三点调整到与标准平板等高；对角线法实测时先将实际表面上的四个角点按对角线调整到两两等高。然后用测微计进行测量，测微计在整个实际表面上测得的比较大变动量即为该实际表面的平面度误差。这些要素可能包括但不限于：不同的行业，领域，阶层，类别等等。光电解决方案价格合理

行业信息化的发展过程。测量解决方案参数

下面详细介绍在DCC状态下，进入“功能”(Utility)菜单选取“扫描”(Scan)选项后可供选择的五种扫描方式。

1.开线扫描(Open Linear Scan)开线扫描是较基本的扫描方式。

测头从起始点开始，沿一定方向并按预定步长进行扫描，直至终止点。开线扫描可分为有、无CAD模型两种情况。

(1)无CAD模型如被测工件无CAD模型，首先输入边界点(Boundary Points)的名义值。打开对话框中的“边界点”选项后，先点击“1”，输入扫描起始点数据；然后双击“D”，输入方向点(表示扫描方向的坐标点)的新的X、Y、Z坐标值；结尾双击“2”，输入扫描终点数据。第二项输入步长。在“扫描”对话框(Scan Dialog)中“方向1技术”(Direction 1 Tech)栏中的“比较大”(Max Inc)栏中输入一个新步长值。结尾检查设定的方向矢量是否正确，该矢量定义了扫描开始后较早测量点表面的法矢、截面以及扫描结束前结尾一点的表面法矢。当所有数据输入完成后点击“创建”。

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